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ブラウズ : 著者 岩田, 博之
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| 発行日 | タイトル | 著者 |
| 2022年10月 | GaNエピタキシャル膜の光学的特性 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 水谷, 大輝; 大谷, 雅也; 前原, 秀伍; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; MIZUTANI, Daiki; OTANI, Masaya; MAEHARA, Syugo |
| 2000年6月30日 | Hイオン注入されたシリコンの欠陥分布観察 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru |
| 2003年1月20日 | Pt貴金属ガラスの変形挙動のその場観察 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; 井上, 明久; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito; INOUE, Akihisa |
| 2006年7月1日 | RBS/Cを用いた水素イオン注入欠陥の評価 | 岩田, 博之; 清水, 孝延; 横井, 久人; 石神, 龍哉; 伊藤, 慶文; 徳田, 豊; 高木, 誠; IWATA, Hiroyuki; SHIMIZU, T; YOKOI, H; ISHIGAMI, T; ITO, Y; TOKUDA, Yutaka; TAKAGI, Makoto |
| 2013年9月30日 | Si 基板上に成長した半極性GaNの欠陥構造評価 | 澤木, 宣彦; 中北, 太平; 伊藤, 翔梧; 岩田, 博之; 谷川, 智之; 本田, 善央; 山口, 雅史; 天野, 浩; SWAKI, Nobuhiko; NAKAGITA, Taihei; ITO, Syogo; IWATA, Hiroyuki; TANIKAWA, Tomoyuki; HONDA, Yoshio; YAMAGUCHI, Masafumi; AMANO, Hiroshi |
| 2016年9月23日 | SiCウェハ内部のパルスレーザ照射痕の観察 | 岩田, 博之; 河口, 大祐; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; KAWAGUCHI, Daisuke; SAKA, Hiroyasu |
| 2006年7月1日 | SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察 | 高木, 誠; 小野寺, 健司; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ONODERA, K; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
| 2010年9月6日 | SPMを用いたSi単結晶のナノ加工と表面の構造変化 | 高木, 誠; 松室, 昭仁; 岩田, 博之; TAKAGI, Makoto; MATSUMURO, Akihito; IWATA, Hiroyuki |
| 2020年11月 | STEM-Ronchigramを利用するLACBEDの開発 | 岩田, 博之; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2018年3月31日 | Surface nanostructure formation and optical properties of black silicon obtained with He plasma exposure | 髙村, 秀一; 青田, 達也; 岩田, 博之; 前中, 志郎; 藤田, 和宜; 玉城, 陽平; 菊池, 祐介; 上杉, 喜彦; TAKAMURA, Shuichi; AOTA, Tatsuya; IWATA, Hiroyuki; MAENAKA, Shiro; FUJITA, Kazunobu; TAMAKI, Yohei; KIKUCHI, Yusuke; UESUGI, Yoshihiko |
| 2001年6月30日 | ZrC粒子を含むZr_55Al_10Ni_5Cu_30バルク金属ガラス複合材料のナノ結晶化挙動 | 高木, 誠; 陳, 鋒; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; CHEN, Feng; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito |
| 1999年6月30日 | Zr基金属ガラスの超塑性変形と微構造 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito |
| 2014年9月30日 | イオン注入に立脚した難加工性材料の超精密剥離技術の開発 | 岩田, 博之; IWATA, Hiroyuki |
| 2012年9月27日 | カーボンナノチューブを用いた高アスペクト比ナノ加工とTEM内その場観察による加工原理の解明 | 高木, 誠; 松室, 昭仁; 岩田, 博之; TAKAGI, Makoto; MATSUMURO, Akihito; IWATA, Hiroyuki |
| 2006年7月1日 | カーボンナノチューブ探針を用いた高アスペクト比ナノスケール穴加工法の開発 | 松室, 昭仁; 高木, 誠; 岩田, 博之; 松本, 章宏; 間野, 日出男; 井村, 徹; MATSUMURO, Akihito; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; Matsumoto, A; MANO, Hideo; IMURA, Toru |
| 2012年9月27日 | シリコン基板上GaNの高分解TEM観察 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 川北, 将吾; 本田, 善央; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; KAWAKITA, Shogo; HONDA, Yoshio |
| 2011年9月5日 | シリコン基板上窒化物半導体の高品質化に関する研究 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 川北, 将吾; 本田, 善央; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; KAWAKITA, Shogo; HONDA, Yoshio |
| 2018年9月30日 | シリコン単結晶のトライボロジーと微構造変化 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2021年11月 | シリコン単結晶のマイクロトライボロジーに及ぼす温度の影響 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2003年7月20日 | シリコン単結晶のマイクロ磨耗 | 高木, 誠; 有馬, 則和; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ARIMA, Norikazu; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
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