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ブラウズ : 著者 SAKA, Hiroyasu
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| 発行日 | タイトル | 著者 |
| 2016年9月23日金曜日 | SiCウェハ内部のパルスレーザ照射痕の観察 | 岩田, 博之; 河口, 大祐; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; KAWAGUCHI, Daisuke; SAKA, Hiroyasu |
| 2006年6月30日金曜日 | SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察 | 高木, 誠; 小野寺, 健司; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ONODERA, K; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
| 2020年11月 | STEM-Ronchigramを利用するLACBEDの開発 | 岩田, 博之; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2018年9月30日日曜日 | シリコン単結晶のトライボロジーと微構造変化 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2021年11月 | シリコン単結晶のマイクロトライボロジーに及ぼす温度の影響 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2003年7月20日日曜日 | シリコン単結晶のマイクロ磨耗 | 高木, 誠; 有馬, 則和; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ARIMA, Norikazu; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
| 2015年9月30日水曜日 | シリコン単結晶の室温における静的曲げ及び疲労 | 高木, 誠; 松室, 昭仁; 岩田, 博之; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; MATSUMURO, Akihito; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
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