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ブラウズ : 主題 TEM
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| 発行日 | タイトル | 著者 |
| 2020年11月 | STEM-Ronchigramを利用するLACBEDの開発 | 岩田, 博之; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2021年11月 | パルスレーザ集光により生ずるサファイヤ結晶欠陥の性状と加工効率 | 岩田, 博之; 河口, 大祐; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; KAWAGUCHI, Daisuke; SAKA, Hiroyasu |
| 2019年12月30日 | パルスレーザ照射により生ずるSi中ボイド近傍の性状 | 岩田, 博之; 河口, 大祐; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; KAWAGUCHI, Daisuke; SAKA, Hiroyasu |
| 2020年11月 | ワイドギャップ半導体の光学的特性評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 出町, 雅彦; 刑部, 建太郎; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; DEMACHI, Masahiko; OSAKABE, Kentaro |
| 2023年11月 | 多元ナノ構造解析システムの構築と手法開発 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 澤木, 宣彦; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; SAWAKI, Nobuhiko; SAKA, Hiroyasu |
| 2022年10月 | 内部集光型レーザダイシングを用いたTEM試料用小片の切り出し手法 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; SAKA, Hiroyasu |
| 2018年9月30日 | 内部集光型レーザダイシングを用いたイオンスライサーのための前処理手法 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 坂, 公恭; 河口, 大祐; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; SAKA, Hiroyasu; KAWAGUCHI, Daisuke |
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