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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11133/3764

Title: ワイドギャップ半導体の光学的特性評価
Other Titles: ワイドギャップ ハンドウタイ ノ コウガクテキ トクセイ ヒョウカ
Authors: 澤木, 宣彦
岩田, 博之
出町, 雅彦
刑部, 建太郎
SAWAKI, Nobuhiko
IWATA, Hiroyuki
DEMACHI, Masahiko
OSAKABE, Kentaro
Keywords: ワイドギャップ半導体
GaN
機械研磨
加工損傷
転位
PL
ラマン散乱
TEM
Issue Date: Nov-2020
Publisher: 愛知工業大学
URI: http://hdl.handle.net/11133/3764
Appears in Collections:(5)一般研究 令和元年度研究成果概要

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