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ブラウズ : 主題 ワイドギャップ半導体
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| 発行日 | タイトル | 著者 |
| 2020年11月 | STEM-Ronchigramを利用するLACBEDの開発 | 岩田, 博之; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2018年9月30日 | ワイドギャップ半導体の光学的特性評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki |
| 2020年11月 | ワイドギャップ半導体の光学的特性評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 出町, 雅彦; 刑部, 建太郎; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; DEMACHI, Masahiko; OSAKABE, Kentaro |
| 2019年12月30日 | ワイドギャップ半導体の光学特性評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki |
| 2023年11月 | 機械研磨したGaN表面の格子欠陥評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 梅村, 樹; 隅田, 憲吾; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; UMEMURA, Itsuki; SUMITA, Kengo |
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