AIT Associated Repository of Academic Resources: ワイドギャップ半導体の光学特性評価

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タイトル:	ワイドギャップ半導体の光学特性評価
その他のタイトル:	ワイドギャップハンドウタイノコウガクトクセイヒョウカ
著者:	澤木, 宣彦岩田, 博之 SAWAKI, Nobuhiko IWATA, Hiroyuki
キーワード:	ワイドギャップ半導体 GaN 加工損傷加工歪み PL ラマン散乱光学ホノン散乱
発行日:	2019年12月30日
出版者:	愛知工業大学
URI:	http://hdl.handle.net/11133/3652
出現コレクション:	（4）一般研究平成30年度研究成果概要

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総研21号一般研究成果概要01(p80-81).pdf		573.64 kB	Adobe PDF	見る/開く

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