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(4)一般研究 平成30年度研究成果概要 >

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11133/3652

Title: ワイドギャップ半導体の光学特性評価
Other Titles: ワイドギャップ ハンドウタイ ノ コウガク トクセイ ヒョウカ
Authors: 澤木, 宣彦
岩田, 博之
SAWAKI, Nobuhiko
IWATA, Hiroyuki
Keywords: ワイドギャップ半導体
GaN
加工損傷
加工歪み
PL
ラマン散乱
光学ホノン散乱
Issue Date: 30-Dec-2019
Publisher: 愛知工業大学
URI: http://hdl.handle.net/11133/3652
Appears in Collections:(4)一般研究 平成30年度研究成果概要

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