AIT Associated Repository of Academic Resources: ワイドギャップ半導体の光学的特性評価

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タイトル:	ワイドギャップ半導体の光学的特性評価
その他のタイトル:	ワイドギャップハンドウタイノコウガクテキトクセイヒョウカ
著者:	澤木, 宣彦岩田, 博之 SAWAKI, Nobuhiko IWATA, Hiroyuki
キーワード:	ワイドギャップ半導体 GaN 加工損傷加工歪み PL ラマン散乱光学ホノン散乱
発行日:	2018年9月30日
出版者:	愛知工業大学
URI:	http://hdl.handle.net/11133/3424
出現コレクション:	（4）一般研究平成29年度研究成果概要

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総研20号一般研究成果概要01(p68-69).pdf		540.28 kB	Adobe PDF	見る/開く

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