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ブラウズ : 著者 IWATA, Hiroyuki
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発行日 | タイトル | 著者 |
2013年9月30日 | Si 基板上に成長した半極性GaNの欠陥構造評価 | 澤木, 宣彦; 中北, 太平; 伊藤, 翔梧; 岩田, 博之; 谷川, 智之; 本田, 善央; 山口, 雅史; 天野, 浩; SWAKI, Nobuhiko; NAKAGITA, Taihei; ITO, Syogo; IWATA, Hiroyuki; TANIKAWA, Tomoyuki; HONDA, Yoshio; YAMAGUCHI, Masafumi; AMANO, Hiroshi |
2016年9月23日 | SiCウェハ内部のパルスレーザ照射痕の観察 | 岩田, 博之; 河口, 大祐; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; KAWAGUCHI, Daisuke; SAKA, Hiroyasu |
2006年7月1日 | SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察 | 高木, 誠; 小野寺, 健司; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ONODERA, K; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
2010年9月6日 | SPMを用いたSi単結晶のナノ加工と表面の構造変化 | 高木, 誠; 松室, 昭仁; 岩田, 博之; TAKAGI, Makoto; MATSUMURO, Akihito; IWATA, Hiroyuki |
2020年11月 | STEM-Ronchigramを利用するLACBEDの開発 | 岩田, 博之; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
2018年3月31日 | Surface nanostructure formation and optical properties of black silicon obtained with He plasma exposure | 髙村, 秀一; 青田, 達也; 岩田, 博之; 前中, 志郎; 藤田, 和宜; 玉城, 陽平; 菊池, 祐介; 上杉, 喜彦; TAKAMURA, Shuichi; AOTA, Tatsuya; IWATA, Hiroyuki; MAENAKA, Shiro; FUJITA, Kazunobu; TAMAKI, Yohei; KIKUCHI, Yusuke; UESUGI, Yoshihiko |
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