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ブラウズ : 著者 井村, 徹
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| 発行日 | タイトル | 著者 |
| 2000年6月30日 | Hイオン注入されたシリコンの欠陥分布観察 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru |
| 2003年1月20日 | Pt貴金属ガラスの変形挙動のその場観察 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; 井上, 明久; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito; INOUE, Akihisa |
| 2006年7月1日 | SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察 | 高木, 誠; 小野寺, 健司; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ONODERA, K; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
| 2001年6月30日 | ZrC粒子を含むZr_55Al_10Ni_5Cu_30バルク金属ガラス複合材料のナノ結晶化挙動 | 高木, 誠; 陳, 鋒; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; CHEN, Feng; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito |
| 1999年6月30日 | Zr基金属ガラスの超塑性変形と微構造 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito |
| 2006年7月1日 | カーボンナノチューブ探針を用いた高アスペクト比ナノスケール穴加工法の開発 | 松室, 昭仁; 高木, 誠; 岩田, 博之; 松本, 章宏; 間野, 日出男; 井村, 徹; MATSUMURO, Akihito; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; Matsumoto, A; MANO, Hideo; IMURA, Toru |
| 2003年7月20日 | ショットピーニングによって発生する表面層の実体 | 間野, 日出男; 井村, 徹; 近田, 和明; 近藤, 覚; MANO, Hideo; IMURA, Toru; KONDA, Kazuaki; KONDO, Satoru |
| 2003年7月20日 | シリコン単結晶のマイクロ磨耗 | 高木, 誠; 有馬, 則和; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ARIMA, Norikazu; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
| 1999年6月30日 | ナノ及び原子的尺度における微構造の変化の電子顕微鏡による解析 | 井村, 徹; 高木, 誠; 岩田, 博之; IMURA, Toru; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki |
| 2001年6月30日 | プロトン注入シリコンの加熱その場観察 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru |
| 2003年1月20日 | プロトン剥離現象における不純物依存性 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru |
| 2003年7月20日 | 原始的構造解析システムの現状と課題 | 岩田, 博之; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru |
| 1999年6月30日 | 高強度を有する急速凝固P/Mアルミニウム合金の耐摩耗性 | 高木, 誠; 太田, 英伸; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; OHTA, Hidenobu; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito |
| 1999年6月30日 | 水素イオン注入により発生したシリコン結晶内プレートレットのTEM観察 | 岩田, 博之; 金森, 栄次; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; KANAMORI, Eiji; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru |
| 2000年6月30日 | 超高速プラズマ照射とレーザー超急冷による表面改質 | 井村, 徹; 広瀬, 富佐雄; 薄葉, 州; IMURA, Toru; HIROSE, Fusao; USUBA, Shu |
| 2003年7月20日 | 低温水素イオン注入により導入されたシリコン結晶欠陥の特性分析 | 岩田, 博之; 徳田, 豊; 高木, 誠; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TOKUDA, Yutaka; TAKAGI, Makoto; IMURA, Toru |
| 1999年6月30日 | 分子線エピタキシー法によりKBr基板上作製されたバナジルフタロシアニン薄膜 | 前田, 昭徳; 奥村, 典弘; 中野, 寛之; 古橋, 秀夫; 吉川, 俊夫; 内田, 悦行; 小嶋, 憲三; 大橋, 朝夫; 井村, 徹; 落合, 鎮康; 家田, 正之; MAEDA, Akinori; OKUMURA, Norihiro; NAKANO, Hiroyuki; FURUHASHI, Hideo; YOSHIKAWA, Toshio; UCHIDA, Yoshiyuki; KOJIMA, Kenzo; OHASHI, Asao; IMURA, Toru; OCHIAI, Shizuyasu; IEDA, Masayuki |
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