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(3)分野横断型研究 令和4年度研究成果概要 >

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11133/4264

Title: マハラノビス距離を用いた電柱の劣化診断
Other Titles: マハラノビス キョリ オ モチイタ デンチュウ ノ レッカ シンダン
Authors: 津田, 紀生
小塚, 晃透
岩月, 栄治
荒井, 翔太
古屋, 直樹
中根, 長太郎
TSUDA, Norio
KOZUKA, Teruyuki
IWATSUKI, Eiji
ARAI, Shota
FURUYA, Naoki
NAKANE, Chotaro
Keywords: マハラノビス距離
劣化診断
電柱
Issue Date: Nov-2023
Publisher: 愛知工業大学
URI: http://hdl.handle.net/11133/4264
Appears in Collections:(3)分野横断型研究 令和4年度研究成果概要

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総研25号分野横断型研究成果概要01(p50-53).pdf817.14 kBAdobe PDFView/Open

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