DSpace DSpace English
 

AIT Associated Repository of Academic Resources >
A.研究報告 >
A1 愛知工業大学研究報告 >
3.愛知工業大学研究報告 .B(1976-2007) >
26号 >

このアイテムの引用には次の識別子を使用してください: http://hdl.handle.net/11133/879

タイトル: 組合せ論理回路のハード的一致検査方式の提案
その他のタイトル: クミアワセ ロンリ カイロ ノ ハードテキ イッチ ケンサ ホウシキ ノ テイアン
Coincidence Detecting Scheme for the Combinatorial Logic Circuits
著者: 羽賀, 隆洋
立木, 滋也
HAGA, Takahiro
TSUIKI, Shigeya
発行日: 1991年3月31日
出版者: 愛知工業大学
抄録: In this paper, we propose an error detecting hardware-scheme for the combinatorial logic circuits (the scheme is named by us as the Coincidence Detecting Scheme). Compared with the software-type testing, the hardware-type detecting has sveral merits such as (1) simultaneous detection of the errors when they occur, doing usual operations, (2) the possibility of detecting the intermittent faults, etc. But, it is very important to make the detecting circuit to be small one, for the reliability and the frugality of the detecting circuit. Hence, AND-Inverse, Output-Side AND Detecting Schemes are proposed as the special cases of the Coincidence Detecting Scheme. And, as a result, it is shown that (1) AND-Inverse Detecting Scheme has minimal redundancy (2 AND and 1 EXOR elements are sufficient excepting NOT), (2) Output-Side AND Detecting Scheme can be applicable to any given combinatorial logic circuit which is detected, and (3) the (average) detecting rate is largely improved by using parallel extensions of such schemes. Of course, above results hold under the situation that any stuck-at faults (at input and/or output points) can be detected.
URI: http://hdl.handle.net/11133/879
出現コレクション:26号

このアイテムのファイル:

ファイル 記述 サイズフォーマット
紀要26号B(P149-158).pdf843.22 kBAdobe PDF見る/開く

このリポジトリに保管されているアイテムは、他に指定されている場合を除き、著作権により保護されています。

 

Valid XHTML 1.0! Powered by DSpace Software Copyright © 2002-2007 MIT and Hewlett-Packard - ご意見をお寄せください