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 (2)プロジェク共同研究 令和3年度研究成果概要 >
 
        
            | このアイテムの引用には次の識別子を使用してください: http://hdl.handle.net/11133/4125 |  
 
| タイトル: | 半導体デバイス洗浄における機械学習を用いた静電気障害の予知技術の確立 |  | その他のタイトル: | ハンドウタイ デバイス センジョウ ニオケル キカイ ガクシュウ オ モチイタ セイデンキ ショウガイ ノ ヨチ ギジュツ ノ カクリツ |  | 著者: | 清家, 善之 森, 竜雄
 一野, 祐亮
 瀬川, 大司
 加藤, 幹大
 宮地, 計二
 SEIKE, Yoshiyuki
 MORI, Tatsuo
 ICHINO, Yusuke
 SEGAWA, Taishi
 KATO, Mikihiro
 MIYACHI, Keiji
 |  | キーワード: | 半導体デバイス 静電気障害
 高圧スプレー
 純水
 ファラデーケージ
 フラットパネルディスプレー
 |  | 発行日: | 2022年10月 |  | 出版者: | 愛知工業大学 |  | URI: | http://hdl.handle.net/11133/4125 |  | 出現コレクション: | (2)プロジェク共同研究 令和3年度研究成果概要 
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