DSpace DSpace English
 

AIT Associated Repository of Academic Resources >
A.研究報告 >
A2 総合技術研究所研究報告 >
11号 >

このアイテムの引用には次の識別子を使用してください: http://hdl.handle.net/11133/1694

タイトル: ダイナミックリアクションセル^TM-誘導結合プラズマ質量分析法による糖尿病患者尿及び血清中の微量元素分析
その他のタイトル: ダイナミック リアクション セル TM ユウドウ ケツゴウ プラズマ シツリョウ ブンセキ ホウ ニヨル トウニョウビョウ カンジャ ニョウ オヨビ ケッセイチュウ ノ ビリョウ ゲンソ ブンセキ
Analysis of Trace Elements in Diabetic Human Urine and Serum by Dynamic Reaction Cell^TM Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
著者: 上田, 寿
手嶋, 紀雄
酒井, 忠雄
加藤, 周司
UEDA, Hisashi
TESHIMA, Norio
SAKAI, Tadao
KATO, Shuji
発行日: 2009年9月24日
出版者: 愛知工業大学
抄録: To assess whether differences in concentrations of trace elements between diabetics and controls can be regarded as significant,V,Cr,Ni,Cu,As and Se in urinary and serum samples from diabetics and healthy volunteers were determined by dynamic reaction cell (DRC™) inductively coupled plasma mass spectrometry. To obtain lower background of each element, DRC™ conditions such as ammonia used as reaction cell gas and rejection parameter q (RPq) were optimized for the measurement. This method with optimum conditions was validated by the analysis of standard reference materials of urine and serum. The results were in good agreement with the certified values. Urine samples supplied from patients (n = 29) with diabetes and from healthy volunteers (n = 11) were analyzed by this method, and the results were assessed by Students t-test at significance level of 0.05. As a result, no statistical significance was observed for urinary V, Ni, As and Se (P > 0.05). However, the concentrations of urinary Cu and Cr in the diabetic group were higher than those in healthy group (P < 0.05). On the other hand the concentration of Cr in serum (n = 19) from patients with diabetes was lower than reference value of serum Cr in controls.
URI: http://hdl.handle.net/11133/1694
出現コレクション:11号

このアイテムのファイル:

ファイル 記述 サイズフォーマット
総研11号(P37-44).pdf782.66 kBAdobe PDF見る/開く

このリポジトリに保管されているアイテムは、他に指定されている場合を除き、著作権により保護されています。

 

Valid XHTML 1.0! Powered by DSpace Software Copyright © 2002-2007 MIT and Hewlett-Packard - ご意見をお寄せください