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http://hdl.handle.net/11133/1673
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| タイトル: | 極微小電流計測型ナノプローブその場観察システムの開発 |
| その他のタイトル: | New In-situ Electrical-Force Characterizing System for TEM |
| 著者: | 岩田, 博之
奥田, 東
IWATA, Hiroyuki
OKUDA, Azuma |
| 発行日: | 2007年8月31日 |
| 出版者: | 愛知工業大学 |
| 抄録: | Piezo-driving spedcimen holder for Atomic scale high-resolution electron-microscopy (TEM) was realized. Various in-situ experiments in TEM, example for, strucyual variation, contact-force, contact electricalcurrent, bondig, separation were observed. The deformation process of multiwalled carbon nanotubes was directry observed using TEM. High elasticity and the subsequent damage process of the nanotube were demonstrated. In-situ Current-Voltage Characters were caliculated with several multimeters integrated with PC. |
| URI: | http://hdl.handle.net/11133/1673 |
| 出現コレクション: | 09号
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