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AIT Associated Repository of Academic Resources >
ブラウズ : 著者 HONDA, Yoshio
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| 発行日 | タイトル | 著者 |
| 2013年9月30日 | Si 基板上に成長した半極性GaNの欠陥構造評価 | 澤木, 宣彦; 中北, 太平; 伊藤, 翔梧; 岩田, 博之; 谷川, 智之; 本田, 善央; 山口, 雅史; 天野, 浩; SWAKI, Nobuhiko; NAKAGITA, Taihei; ITO, Syogo; IWATA, Hiroyuki; TANIKAWA, Tomoyuki; HONDA, Yoshio; YAMAGUCHI, Masafumi; AMANO, Hiroshi |
| 2016年9月23日 | Si基板上GaNのPLスペクトルへの熱処理効果 | 澤木, 宣彦; 小林, 宙主; 神谷, 俊輝; 亀井, 亮吾; 入江, 将嗣; 本田, 善央; 天野, 浩; 安, 亨洙; SAWAKI, Nobuhiko; KOBAYASHI, Hiroyuki; KAMIYA, Toshiki; KAMEI, Keigo; IRIE, Masatsugu; HONDA, Yoshio; AMANO, Hiroshi; AHN, H-S |
| 2014年9月30日 | Si基板上高品質GaNの光学スペクトル | 澤木, 宣彦; 伊藤, 翔悟; 小林, 宙主; 刑部, 勇希; 入江, 将嗣; 本田, 善央; 天野, 浩; 安, 亨洙; SAWAKI, Nobuhiko; ITO, Syogo; KOBAYASHI, Hiroyuki; OSAKABE, Yuki; IRIE, Masatsugu; HONDA, Yoshio; AMANO, Hiroshi; AHN, H-S |
| 2012年9月27日 | シリコン基板上GaNの高分解TEM観察 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 川北, 将吾; 本田, 善央; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; KAWAKITA, Shogo; HONDA, Yoshio |
| 2011年9月5日 | シリコン基板上窒化物半導体の高品質化に関する研究 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 川北, 将吾; 本田, 善央; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; KAWAKITA, Shogo; HONDA, Yoshio |
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