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ブラウズ : 著者 岩田, 博之
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| 発行日 | タイトル | 著者 |
| 1999年6月30日 | ナノ及び原子的尺度における微構造の変化の電子顕微鏡による解析 | 井村, 徹; 高木, 誠; 岩田, 博之; IMURA, Toru; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki |
| 2021年11月 | パルスレーザ集光により生ずるサファイヤ結晶欠陥の性状と加工効率 | 岩田, 博之; 河口, 大祐; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; KAWAGUCHI, Daisuke; SAKA, Hiroyasu |
| 2019年12月30日 | パルスレーザ照射により生ずるSi中ボイド近傍の性状 | 岩田, 博之; 河口, 大祐; 坂, 公恭; IWATA, Hiroyuki; KAWAGUCHI, Daisuke; SAKA, Hiroyasu |
| 2003年7月20日 | プラスチック用導電性充填剤としての研磨粉に関する研究(1) : エポキシ樹脂への利用と磁場の効果 | 吉川, 俊夫; 岩田, 博之; 中原, 崇文; YOSHIKAWA, Toshio; IWATA, Hiroyuki; NAKAHARA, Takafumi |
| 2001年6月30日 | プロトン注入シリコンの加熱その場観察 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru |
| 2003年1月20日 | プロトン剥離現象における不純物依存性 | 岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru |
| 2021年11月 | ファノー流れによる超音速アーク気流の分光温度計測 | 北川, 一敬; 高木, 誠; 岩田, 博之; 坂, 公恭; KITAGAWA, Kazutaka; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2019年3月31日 | ヘリウム・プラズマ照射によってタングステン表面に形成される繊維状ナノ構造の結晶性 | 髙村, 秀一; 岩田, 博之; 青田, 達也; 上杉, 喜彦; 前中, 志郎; 藤田, 和宣; TAKAMURA, Shuichi; IWATA, Hiroyuki; AOTA, Tatsuya; UESUGI, Yoshihiko; MAENAKA, Shiro; FUJITA, Kazunobu |
| 2018年9月30日 | ワイドギャップ半導体の光学的特性評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki |
| 2020年11月 | ワイドギャップ半導体の光学的特性評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 出町, 雅彦; 刑部, 建太郎; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; DEMACHI, Masahiko; OSAKABE, Kentaro |
| 2019年12月30日 | ワイドギャップ半導体の光学特性評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki |
| 2007年8月31日 | 引き上げ法によるカーボンナノチューブ探針の簡易作製 | 松室, 昭仁; 高木, 誠; 岩田, 博之; 松本, 章宏; 間野, 日出男; MATSUMURO, Akihito; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; Matsumoto, A.; MANO, Hideo |
| 2021年11月 | 回折格子分光器のゴースト | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki |
| 2023年11月 | 機械研磨したGaN表面の格子欠陥評価 | 澤木, 宣彦; 岩田, 博之; 梅村, 樹; 隅田, 憲吾; SAWAKI, Nobuhiko; IWATA, Hiroyuki; UMEMURA, Itsuki; SUMITA, Kengo |
| 2020年11月 | 機械研磨加工がシリコン単結晶の微構造に及ぼす影響 | 高木, 誠; 岩田, 博之; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; SAKA, Hiroyasu |
| 2007年8月31日 | 極微小電流計測型ナノプローブその場観察システムの開発 | 岩田, 博之; 奥田, 東; IWATA, Hiroyuki; OKUDA, Azuma |
| 2003年7月20日 | 原始的構造解析システムの現状と課題 | 岩田, 博之; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru |
| 2013年9月30日 | 原子間力顕微鏡(AFM)と透過型電子顕微鏡(TEM)を用いたシリコン単結晶のマイクロ摩耗プロセスの解明 | 高木, 誠; 松室, 昭仁; 岩田, 博之; TAKAGI, Makoto; MATSUMURO, Akihihoto; IWATA, Hiroyuki |
| 2012年9月27日 | 原子的構造解析システムの現状と課題(II） | 岩田, 博之; 高木, 誠; 平野, 正典; 山田, 英介; 渡辺, 藤雄; 落合, 鎮康; 澤木, 宣彦; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; HIRANO, Masanori; YAMADA, Eisuke; WATANABE, Fujio; OCHIAI, Shizuyasu; SAWAKI, Nobuhiko |
| 1999年6月30日 | 高ドーズ水素イオン注入シリコンの物性とそのSOI製作への応用 | 徳田, 豊; 高木, 誠; 岩田, 博之; 大島, 久純; 伊藤, 明; TOKUDA, Yutaka; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; OHSHIMA, Hisatugu; ITO, Akira |
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