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ブラウズ : 著者 井村, 徹

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発行日タイトル著者
2000年6月30日Hイオン注入されたシリコンの欠陥分布観察岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru
2003年1月20日Pt貴金属ガラスの変形挙動のその場観察高木, 誠; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; 井上, 明久; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito; INOUE, Akihisa
2006年7月1日SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察高木, 誠; 小野寺, 健司; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ONODERA, K; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu
2001年6月30日ZrC粒子を含むZr_55Al_10Ni_5Cu_30バルク金属ガラス複合材料のナノ結晶化挙動高木, 誠; 陳, 鋒; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; CHEN, Feng; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito
1999年6月30日Zr基金属ガラスの超塑性変形と微構造高木, 誠; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito
2006年7月1日カーボンナノチューブ探針を用いた高アスペクト比ナノスケール穴加工法の開発松室, 昭仁; 高木, 誠; 岩田, 博之; 松本, 章宏; 間野, 日出男; 井村, 徹; MATSUMURO, Akihito; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki; Matsumoto, A; MANO, Hideo; IMURA, Toru
2003年7月20日ショットピーニングによって発生する表面層の実体間野, 日出男; 井村, 徹; 近田, 和明; 近藤, 覚; MANO, Hideo; IMURA, Toru; KONDA, Kazuaki; KONDO, Satoru
2003年7月20日シリコン単結晶のマイクロ磨耗高木, 誠; 有馬, 則和; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ARIMA, Norikazu; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu
1999年6月30日ナノ及び原子的尺度における微構造の変化の電子顕微鏡による解析井村, 徹; 高木, 誠; 岩田, 博之; IMURA, Toru; TAKAGI, Makoto; IWATA, Hiroyuki
2001年6月30日プロトン注入シリコンの加熱その場観察 岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru
2003年1月20日プロトン剥離現象における不純物依存性岩田, 博之; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru
2003年7月20日原始的構造解析システムの現状と課題岩田, 博之; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru
1999年6月30日高強度を有する急速凝固P/Mアルミニウム合金の耐摩耗性高木, 誠; 太田, 英伸; 岩田, 博之; 井村, 徹; 河村, 能人; TAKAGI, Makoto; OHTA, Hidenobu; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; KAWAMURA, Yoshihito
1999年6月30日水素イオン注入により発生したシリコン結晶内プレートレットのTEM観察岩田, 博之; 金森, 栄次; 高木, 誠; 徳田, 豊; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; KANAMORI, Eiji; TAKAGI, Makoto; TOKUDA, Yutaka; IMURA, Toru
2000年6月30日超高速プラズマ照射とレーザー超急冷による表面改質井村, 徹; 広瀬, 富佐雄; 薄葉, 州; IMURA, Toru; HIROSE, Fusao; USUBA, Shu
2003年7月20日低温水素イオン注入により導入されたシリコン結晶欠陥の特性分析岩田, 博之; 徳田, 豊; 高木, 誠; 井村, 徹; IWATA, Hiroyuki; TOKUDA, Yutaka; TAKAGI, Makoto; IMURA, Toru
1999年6月30日分子線エピタキシー法によりKBr基板上作製されたバナジルフタロシアニン薄膜前田, 昭徳; 奥村, 典弘; 中野, 寛之; 古橋, 秀夫; 吉川, 俊夫; 内田, 悦行; 小嶋, 憲三; 大橋, 朝夫; 井村, 徹; 落合, 鎮康; 家田, 正之; MAEDA, Akinori; OKUMURA, Norihiro; NAKANO, Hiroyuki; FURUHASHI, Hideo; YOSHIKAWA, Toshio; UCHIDA, Yoshiyuki; KOJIMA, Kenzo; OHASHI, Asao; IMURA, Toru; OCHIAI, Shizuyasu; IEDA, Masayuki
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