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ブラウズ : 著者 佐々木, 勝寛
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発行日 | タイトル | 著者 |
2006年7月1日 | SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察 | 高木, 誠; 小野寺, 健司; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ONODERA, K; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
2003年7月20日 | シリコン単結晶のマイクロ磨耗 | 高木, 誠; 有馬, 則和; 岩田, 博之; 井村, 徹; 佐々木, 勝寛; 坂, 公恭; TAKAGI, Makoto; ARIMA, Norikazu; IWATA, Hiroyuki; IMURA, Toru; SASAKI, Katsuhiro; SAKA, Hiroyasu |
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